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快速检测,快速响应:微电子和半导体用检验系统LEICA DM3XL系列金相显微镜
时间:2017-08-10 分享按钮

 

优势:在微电子和半导体行业中,检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快,您做出响应的速度也就越快.
 
快速检测,快速响应:微电子和半导体用检验系统LEICA DM3XL系列金相显微镜
视场宽敞30%:DM3 XL 检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷,提高您的收益率。充分利用独特的宏观物镜,视场宽敞 30%。更更多细节尽收眼底,工作更高效
看到更多细节意味着工作更高效。
为快速扫描达到 6" 的大组件,DM3 XL 提供独特的宏观物镜。中显恒业,进口科学仪器提供商。
利用 0.7x 放大倍率,它可以即刻采集 35.7 mm的视场–比其他常规扫描物镜宽敞30%
在宏观物镜下,缺陷无所遁形:
提高您的收益率
可靠检测晶片边缘或中心显影不足的区域
检测不均匀的径向膜厚度多细节尽收眼底,工作更高效
快速检测,快速响应:微电子和半导体用检验系统LEICA DM3XL系列金相显微镜 
适用于所有相衬观察方法的 LED
DM3 XL 针对所有相衬观察方法使用 LED 照明。LED 照明可提供恒定的色温,并在所有亮度等级下提供真彩色成像。
在所有亮度等级下实现真彩色成像
自由调节
无需更换灯泡 – 无停机时间
可复制的结果
由于 LED 使用寿命长,耗电量低,因此还具有巨大的成本节约潜力。
光学“高手”
 快速检测,快速响应:微电子和半导体用检验系统LEICA DM3XL系列金相显微镜
DM3 XL 让您以实惠的价格享受到卓越的光学性能。
采用斜射照明检验侧面、边缘或碎屑:以简单有效的方式从不同角度照亮样品,从而实现各种形貌的可视化。
借助深暗场对比检测样品较低层中的微小划痕或小颗粒。
您将对明显提高的灵敏度和分辨率感到震惊。
 快速检测,快速响应:微电子和半导体用检验系统LEICA DM3XL系列金相显微镜
不同样品 – 可变载物台插件
无论您想要检验的样品是哪种类型,尺寸如何,均有种类丰富的载物台插件供您选择:
载物台尺寸:150 mm x 150 mm
载物台插件:金属插件、晶片支座或掩模支座
快速的粗略或精准载物台定位
 快速检测,快速响应:微电子和半导体用检验系统LEICA DM3XL系列金相显微镜
工作舒适直观
 
彩色编码光圈辅助 (CCDA) 对分辨率、对比和景深的基本设置进行简化,有助于提升您的工作速度,并最大程度减少操作失误。
直观明了的功能帮助您的团队更快速地交付最佳结果。
得益于可轻松操作的控件,用户可在切换对比度或照明时,双手继续操作显微镜,双眼专注于样品之上。
右手可轻松操控光强控制器
使用可变人体工学镜筒和调焦旋钮,根据不同身高调整显微镜

快速检测,快速响应:微电子和半导体用检验系统LEICA DM3XL系列金相显微镜

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