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508PV显微分光光度计
508 PV™能够与任意开放接口的显微镜或者探针台结合使用,增加光谱学、彩色成像、薄膜厚度测量和比色测量功能,非常适用于各种应用,如平板显示器上像素的比色测定、煤镜质体和岩相的反射率测量或光学和半导体的薄膜厚度测量,能够很简便快速的获得光谱和图像,甚至是数字视频。选择不同的显微镜配置,能够从微光样品中获得吸收、透射、反射、偏光和荧光显微光谱。CRAIC提供的...
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